WH91磁性分體測厚儀

WH91磁性分體測厚儀

WH91磁性分體測厚儀是我公司新研發(fā)生產(chǎn)的一種帶線的延長探頭測凹槽面更加方便了，還有一些桌面底下，窗外測不到的地方，用這種帶探頭的測量非常方便，可滿足客戶的不同需求。

WH91磁性涂層測厚儀的技術(shù)參數(shù)如下所示

測量范圍	0-1250um
工作電源	兩節(jié) 5 號電池
測量精度誤差	零點校準 ±(1+3%H);二點校準±【(1%～3%H)】H+1.5
環(huán)境溫度	0-40℃
相對濕度	≤85%
小基體	10*10mm
小曲率	凸：5mm;凹 ：5mm
薄基體	0.4mm
重量	115 克(含電池)
尺寸	110mm*65mm*30mm

WH91磁性分體涂層測厚儀的產(chǎn)品特點

1、具有電源欠壓指示功能

2、操作過程有蜂鳴聲提示

3、能快速自動識別鐵基體與非鐵基體

4、設有兩種關(guān)機方式：手動關(guān)機方式和自動關(guān)機方式;

5、有負數(shù)顯示功能，保證儀器在零位點的校準準確性;

6、采用了磁性測厚方法，適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為：鋼、鐵、銀、鎳。

7、可采用單點校準和兩點校準兩種方法對儀器進行校準，并可用基本校準法對測量頭的系統(tǒng)誤差進行修正，保證儀器在測量過程中儀器的準確性;

WH91磁性分體涂層測厚儀的使用說明

1)開機

按下 ON 鍵后儀器聽到一聲鳴響，自動恢復上次關(guān)機前的參數(shù)設置后，將顯示0.0μm，儀器進入待測狀態(tài)?？蓽y量工件了。經(jīng)過一段時間不使用儀器將自動關(guān)機。

2)關(guān)機

在無任何操作的情況下，大約 3分鐘后儀器自動關(guān)機。按一下“ON”鍵，立即關(guān)機。

3)單位制式轉(zhuǎn)換(公制與英制轉(zhuǎn)換)

在待測狀態(tài)下，按μm/mil可轉(zhuǎn)換其測量單位。

4)測量

a)準備好待測試件

b)是否需要校準儀器，如果需要，選擇適當?shù)男史椒ㄟM行(參照 4 儀器校準)

c)迅速將測量頭與測試面垂直地接觸并輕壓測量頭定位套，隨著一聲鳴響，屏幕顯示測量值，儀器會自動感應被測基體：感應到是磁性基體時儀器顯示 Fe感應到是非磁性金屬時儀器顯示 NFe。測量時請始終保持儀器處于垂直狀態(tài)!提起測量頭可進行下次測量;

WH91磁性分體涂層測厚儀的校準

為使測量準確，應在測量場所對儀器進行校準。

1 校準標準片(包括箔和基體)

已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。簡稱標準片。

a) 校準箔

對于磁性方法， “箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法，通常采用塑料箔。 “箔”有利于曲面上的校準，而且比用有覆蓋層的標準片更合適。

b) 有覆蓋層的標準片

采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標準片。對于磁性方法，覆蓋層是非磁性的。對于渦流方法，覆蓋層是非導電的。

2 基體

a)對于磁性方法，標準片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與待測試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實標準片的適用性，可用標準片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得的讀數(shù)進行比較。

b) 如果待測試件的金屬基體厚度沒有超過表一中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進行校準：

1) 在與待測試件的金屬基體厚度相同的金屬標準片上校準;

2) 用一足夠厚度的，電學性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標準片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。

c) 如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準，則有覆蓋層的標準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率，應與試樣的曲率相同。

3 校準方法

本儀器有三種測量中使用校準方法: 零點校準、二點校準，還有一種針對測量頭的六點修正校準。本儀器的校準方法是非常簡單的。

3.1 零點校準

a) 在基體上進行一次測量，屏幕顯示<×.×µm>。

b) 按 ZERO 鍵，屏顯<0.0>。校準已完成，可以開始測量了。

c) 重復上述 a、b 步驟可獲得更為的零點，高測量精度。零點校準完成后就可進行測量了。注：本儀器提供負數(shù)顯示，為用戶更方便的選擇零點。

3.2 二點校準

這一校準法適用于高精度測量及小工件、淬火鋼、合金鋼。

a) 先校零點(如上述)。

b) 在厚度大致等于預計的待測覆蓋層厚度的標準片上進行一次測量，屏幕顯示<×××µm>。

c) 用▲、▲、鍵修正讀數(shù)，使其達到標準值。校準已完成，可以開始測量。

注：在儀器校準時，單次按將跳動一個數(shù)，長按不松開，將連續(xù)跳動要修正的值。

4 六點修正校準

在下述情況下，改變基本校準是有必要的:

測量頭頂端被磨損、新?lián)Q的測量頭、特殊的用途。

在測量中，如果誤差明顯地超出給定范圍，則應對測量頭的特性重新進行校準稱為基本校準。通過輸入 6 個校準值(1 個零和 5 個厚度值)，可重新校準測量頭，具體操作方法如下：

a) 在儀器開啟的狀態(tài)下，按順序連續(xù)、快速按下以下按鈕，即可進入六點修正校準;

b)先校零值。在六點修正校準界面的個界面，測一下沒有任何涂層的基體，然后按 ZERO 鍵，屏幕中的 ADJ 顯示 0.0µm，按 進入下一點的校準;

c)校準儀器自帶校準片，把 50µm 的放到基體上，測一下 50µm 的厚度，測出來的(ADJ)數(shù)與校準片的值不符按? ?調(diào)整到與校準片的值一樣(如50µm 測出來是 54µm 按?調(diào)整到 50µm)， 然后按 進入下一點校準,接著用相同的校準方法依次校準 100μm、250μm、500μm、1000μm 校準膜片;

d)6 點數(shù)據(jù)調(diào)整完之后，會出現(xiàn)對話框詢問是否保存，按 確認保存;

e)若使用其他膜片標準，須按厚度增加的順序，一個厚度上可做多次。每個厚度應至少是上一個厚度的 1.6 倍以上，理想情況是 2 倍。例如: 50、100、250、500、1000μm。大值應該接近但低于測量頭的大測量范圍;

注意: 每個厚度應至少是上一個厚度的 1.6 倍以上，否則視為基本校準失敗，后面一個點必須大于 500μm